亞微米粒徑電位檢測(cè)儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒度分析復(fù)合采用單峰算法和擁有技術(shù)的多峰算法，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢(shì)，其的解析度及重現(xiàn)性是其他同類(lèi)產(chǎn)品*的。

   亞微米粒徑電位檢測(cè)儀整機(jī)采用模塊化設(shè)計(jì)，可靈活方便地?cái)U(kuò)展電位等其它功能，是納米粒徑分析儀器，采用現(xiàn)在的動(dòng)態(tài)光散射原理，利用的多峰算法可以很的分析比較復(fù)雜多組分混合樣品。為實(shí)驗(yàn)室的研究提供好的分析技術(shù)。亞微米粒徑電位檢測(cè)儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測(cè)范圍 0.3 nm- 10μm。亞微米粒徑電位檢測(cè)儀采用單峰算法和擁有技術(shù)的多峰算法，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢(shì)，其的解析度及重現(xiàn)性是其他同類(lèi)產(chǎn)品*的。

   亞微米粒徑電位檢測(cè)儀集原樣進(jìn)樣檢測(cè)、自動(dòng)稀釋等全自動(dòng)檢測(cè)功能于一身，為用戶(hù)提供可方便、快捷、、可靠的粒徑分析，是性的顆粒計(jì)數(shù)器系列產(chǎn)品。亞微米粒徑電位檢測(cè)儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布，主要用于檢測(cè)納米級(jí)別的膠體體系，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢(shì)，其的解析度及重現(xiàn)性是其他同類(lèi)產(chǎn)品*的。

   亞微米粒徑電位檢測(cè)儀基線(xiàn)調(diào)整自動(dòng)補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是亞微米粒徑電位檢測(cè)儀所*的兩個(gè)主要特點(diǎn)，通過(guò)多年在不同領(lǐng)域的實(shí)踐證明，亞微米粒徑電位檢測(cè)儀可以有效區(qū)分開(kāi)相鄰峰，也可以識(shí)別并剔除少數(shù)較大粒子造成的雜峰。亞微米粒徑電位檢測(cè)儀結(jié)合了動(dòng)態(tài)光散射和電泳光散射的技術(shù)，能同時(shí)實(shí)現(xiàn)檢測(cè)粒徑和電位的功能，并使用大功率的激光光源，為檢測(cè)提供了更高的度，真正做到直接檢測(cè)而無(wú)需校正，并獲得更高的分辨率及重現(xiàn)性。